1세대 Face id flex cable

1세대 페이스아이디 보조 부품은 플렉스케이블 형태로 있었습니다.

플렉스 케이블이 현재도 나오고 있으나, 이 플렉스 케이블은 페이스아이디 닷 프로젝터 circuit에서 Mosfet을 제거하고 일부 회로를 와이어나 0옴에 가까운 저항으로 연결시켜준 뒤, 기존 데이터를 저장하고 플렉스케이블을 교체하여 기존 데이터를 다시 옮겨주는 방식으로 진행됩니다.

해당 플렉스 케이블을 자세히 보면 빨간색으로 표시한 영역 안에 ROM IC가 있는것을 보실 수 있습니다.

해당 IC가 앞단에서 정보를 가져오고, 나머지 회로에서 작업을 수행하게 되는 방식입니다.

2세대 Face id Data IC Chip

2세대부터는 기존 IC를 제거하고 플렉스케이블이 아닌 페이스아이디의 IC 칩과 Mosfet이 위치한곳에 칩을 달아주는 방식으로 출시되었습니다.

페이스아이디에 플렉스케이블을 교체할 필요가 없고, 어차피 Mosfet에 브릿지를 시켜줘야하기 때문에 기존데이터를 백업하고 모듈형 IC를 달아 기존데이터를 입력시켜 플렉스케이블을 교체하는 반거로움이 사라졌습니다.

JCID, Qianli, Mijing, I2C등 여러 브랜드에서 위와같은 IC를 출시하고 호스트 기기를 판매했으나, 지원률이 가장좋은 JCID는 2세대에 걸친 Face id IC를 판매하고 있습니다.

1세대 Universal Common IC

2세대 JCID Module type IC

3세대 JCID Thin Module IC

현재까지도 페이스아이디 수리작업에는 해당 칩이 많이 사용되고 있습니다.

3세대 Faceid-Tag on

FPC 케이블쪽에 데이터가 입력된 작은 FPC케이블을 달아 문제를 해결하는 방식입니다.

해당 방식은 True Depth 오류 발생시, 침수 외 기능을 정상화하는 역할을 수행하고 있습니다.

아래 조건에서만 사용이 가능합니다.

페이스 아이디 테스트 항목Tag-On 방식 가능상세 내용

IC와 통신 불가능	사용 불가	플렉스 케이블을 이용하여 데이터를 백업 가능 여부
IC 칩이 손상된 경우	사용 불가	페이스아이디 IC 칩이 손상 되었는지 여부
FPC가 손상된 경우	사용 불가	페이스아이디 케이블이 손상되었는지 여부
NTC 테스트 불량	사용 가능	NTC 사용이 불가한지 여부
LED 테스트 불량	사용 가능	LED가 손상되어있지 않으며 Fuse 상태인지 여부
IC 쇼트 불량	사용 가능	IC가 쇼트 상태인지 여부

위 항목에서 사용 가능이라고 표시한 항목에서만 적용이 되며, 침수인 경우 대부분 해당 태그온 방식으로는 수리할 수 없습니다.

태그 온 방식의 케이블은 AY, Mijing이 초기 상품런칭을 하였으며, 뒤이어 JCID, Qianli, I2C등 많은 수리브랜드가 추가적으로 런칭하였습니다.

해당 방식은 별도의 납땜, IC 등을 넣지 않고, 단순히 전면 카메라 닷 프로젝터 플렉스 케이블에 끼워 사용하는 방식으로 기존 데이터와 추가적인 작업을 거쳐 동직하게 됩니다.

플렉스케이블의 종류도 많으며 현재는 아이폰 12시리즈까지 지원하고 있는 상태입니다.

플렉스 케이블에 태그온 방식은 저렴한 수리 보조 부품으로 기존 수리점에서는 True Depth 오류에 대한 솔루션이 간편하게 해결될 것으로 보여집니다.

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